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新品發(fā)布高溫冷熱臺發(fā)布時間：2025-12-03

為滿足材料研究、電子元器件測試、陶瓷燒結(jié)及高溫物性分析等領(lǐng)域，北京華測試驗儀器有限公司推出新一代溫控測試平臺。該平臺集溫控性能、靈活配置能力與兼容性于一體，專為科研機(jī)構(gòu)、高校實驗室及制造企業(yè)打造，助力用戶在不同溫度環(huán)境下實現(xiàn)電學(xué)參數(shù)測量。一、技術(shù)參數(shù)溫域覆蓋：支持從室溫（RT）至...

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2021
12-28

電弱點測試儀符合標(biāo)準(zhǔn)介紹
電弱點測試儀試驗電壓是0－20kV交直流電壓，其波動為±1%。電弱點測試儀在試樣弱點擊穿后約0.1s內(nèi)使電壓回升到原來設(shè)定的電壓。銅輥為下電極，導(dǎo)電橡膠為上電極。薄膜以3m/min的速度移動。遇弱點時擊穿，擊穿點自動累積計數(shù)。膜移動以平方數(shù)自動計數(shù)。電弱點測試儀是根...
2021
12-22

電弱點測試儀的試驗電壓是多少？
電弱點測試儀是根據(jù)GB/T13542-92、IEC60674-2:1988電氣用塑料薄膜標(biāo)準(zhǔn)要求設(shè)計的高壓試驗裝置。主要用于電氣用聚氨脂薄膜、塑料薄膜、聚丙烯薄膜等絕緣材料早給定直流電壓下每平方的擊穿點數(shù)。本機(jī)采用計算機(jī)控制，可對實驗過程中的各種數(shù)據(jù)進(jìn)行快速、采集、處理，并可存取...
2021
11-24

高溫四探針測試儀提高了薄膜電阻和體電阻率測量精度
高溫四探針測試儀可以實現(xiàn)高溫、真空及惰性氣氛條件下測量硅、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率和外延層、擴(kuò)散層和離子注入層的方塊電阻以及測量導(dǎo)電玻璃（ITO）和其他導(dǎo)電薄膜的方塊電阻。高溫四探針測試儀是測量電阻率的一種方法，測量電阻率的方法很多，如三探針法、電容-電壓法、擴(kuò)展電阻法等，四探...
2021
11-8

熱釋電系數(shù)測試儀的應(yīng)用
熱釋電系數(shù)測試儀是利用紅外線來進(jìn)行數(shù)據(jù)處理的一種儀器。主要是由一種高熱電系數(shù)的材料，如鋯鈦酸鉛系陶瓷、鉭酸鋰、硫酸三甘鈦等制成探測元件。人體都有恒定的體溫，一般在37度，所以會發(fā)出特定波長10UM左右的紅外線，被動式紅外探頭就是靠探測人體發(fā)射的10UM左右的紅外線而進(jìn)行工作的。人...
2021
10-22

高溫絕緣電阻測試儀的使用和注意事項
高溫絕緣電阻測試儀采用開發(fā)電子保護(hù)系統(tǒng)，提高了設(shè)備的性；選用熱電偶保定溫度的采集有效值、高溫絕緣電阻測試儀采用的SPWM電子升壓技術(shù)，電壓輸出穩(wěn)定性好。配備電壓、電流傳感器以保證試驗數(shù)據(jù)的有效性。高溫絕緣電阻測試儀使用注意事項：1、絕緣電阻表的發(fā)電機(jī)電壓等級應(yīng)與被測物的耐壓水平相...
2021
9-23

電弱點測試儀安不？
電弱點測試儀通過人機(jī)對話方式可對試驗過程中的各種數(shù)據(jù)進(jìn)行快速、采集、處理，并可存取、顯示、打印。電弱點測試儀是根據(jù)IEC60674-2：2009電氣用塑料薄膜第2部分：試驗方法及其第1次修正（2001）和GB/T13542-92《電氣用塑料薄膜試驗方法》而設(shè)計的高壓試驗裝置。主要...

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