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電壓擊穿試驗數(shù)據(jù)采集與報告生成的標準化流程
發(fā)布時間:2025-12-19
電壓擊穿強度是固體絕緣材料的電氣性能參數(shù),用于評估其在高電場作用下的絕緣能力。該參數(shù)的測試結果受材料種類、厚度、環(huán)境條件及測試方法影響。為獲得可重復、可比對的測試數(shù)據(jù),需采用符合相關標準的專用設備。北京華測試驗儀器有限公司研制的100kV電壓擊穿試驗儀,適用于固體絕緣材料的直流或...
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2024
7-11
電阻率、體積電阻率、表面電阻率的區(qū)別與其測定方法?
電阻率、體積電阻率、表面電阻率的區(qū)別與其測定方法?電阻率、體積電阻率和表面電阻率都是描述材料導電性能的重要參數(shù),但它們分別針對不同的物理現(xiàn)象和應用場景。以下是對它們的區(qū)別及測定方法的簡單介紹:電阻率定義:電阻率是用來表示各種物質電阻特性的物...
2024
7-10
高低溫冷熱臺的用途及選購指南
高低溫冷熱臺的用途及選購指南一、用途概述高低溫冷熱臺,又稱高低溫試驗箱或恒溫恒濕試驗箱,是一種廣泛應用于產品質量檢測、環(huán)境適應性分析等領域的設備。它主要用于模擬產品在jiduan溫度條件下的性能表現(xiàn),以便評估產品在各種溫度環(huán)境下的可靠性、穩(wěn)...
2024
7-9
淺析'耐電痕化指數(shù)和電痕化指數(shù)測定方法'新版與舊版的差異!
淺析新版GB/T4207《固體絕緣材料耐電痕化指數(shù)和相比電痕化指數(shù)測定方法》同舊版的差異耐電痕化指數(shù)和相比電痕化指數(shù)是判斷固體絕緣材料性能優(yōu)劣的重要參數(shù)指標,是電器、電工電子、半導體封裝等行業(yè)所使用的固體絕緣材料的重要檢測項目。電痕化是指固...
2024
7-8
華測儀器助力耐電痕無鹵阻燃測試
半導體電子環(huán)氧塑封料(EMC)的耐電痕無鹵阻燃測試目前硅基半導體芯片所使用的封裝材料主要是環(huán)氧塑封料(EMC),對其電學性能的測試除了高低溫介電溫譜(介電常數(shù))、常溫高溫電場強度(電擊穿)及常溫高溫絕緣電阻(體積電阻率)測試以外,耐電痕無鹵...
2024
7-2
探索熱激勵電流系統(tǒng)的原理與應用
在現(xiàn)代科技和工業(yè)領域,熱能的有效利用一直是研究的熱點之一。熱激勵電流系統(tǒng)作為一種將熱能直接轉換為電能的技術,提供了一種新的能源利用方式。這種技術不僅能夠提高能源的使用效率,還有助于推動環(huán)保和可持續(xù)發(fā)展的進程。一、工作原理熱激勵電流系統(tǒng)基于塞...
2024
7-1
絕緣材料電阻評價平臺的多種優(yōu)勢及產品特點
絕緣材料電阻評價平臺的多種優(yōu)勢及產品特點絕緣材料電阻評價平臺運用平行板法設計原理測量。該儀器設計符合《GB/T10518-2006絕緣材料在高溫下電阻和電阻率試驗方法》標準設計開發(fā),利用特殊的電阻測試系統(tǒng),重復性與穩(wěn)定性好,提升了夾具的抗干...
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