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電壓擊穿試驗數(shù)據(jù)采集與報告生成的標準化流程發(fā)布時間：2025-12-19

電壓擊穿強度是固體絕緣材料的電氣性能參數(shù)，用于評估其在高電場作用下的絕緣能力。該參數(shù)的測試結(jié)果受材料種類、厚度、環(huán)境條件及測試方法影響。為獲得可重復、可比對的測試數(shù)據(jù)，需采用符合相關(guān)標準的專用設(shè)備。北京華測試驗儀器有限公司研制的100kV電壓擊穿試驗儀，適用于固體絕緣材料的直流或...

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2024
8-28

高頻高壓絕緣電阻、介電測試系統(tǒng)是什么？
產(chǎn)品概述：系統(tǒng)通過測量被測物絕緣各個頻率下的泄漏電流，利用數(shù)據(jù)模型對測量結(jié)果進行分析從而得到固體絕緣材料的電導率、絕緣油的電導率/介損以及參考溫度下的介損、電阻等參數(shù)，由于模型能夠精確補償溫度對測試結(jié)果的影響，因此測試可在任何溫度下進行。絕...
2024
8-26

鎖相放大器在低介電常數(shù)材料測量中的應用
隨著集成電路和通信技術(shù)的高速發(fā)展，低介常數(shù)材料（Low-K）被廣泛的應用，一般我們將K值＜3的材料稱為低介電常數(shù)材料，但在新一代集成電路中，很多器件要求材料的K值＜2.5，國際器件與系統(tǒng)藍圖（IRDS）還建議在2028年前，開發(fā)出K值＜2的...
2024
8-22

簡單了解下可一機多用，具有強大的擴展能力的絕緣材料電阻評價平臺！
簡單了解下可一機多用，具有強大的擴展能力的絕緣材料電阻評價平臺！絕緣材料電阻評價平臺運用平行板法設(shè)計原理測量。該儀器設(shè)計符合《GB/T10518-2006絕緣材料在高溫下電阻和電阻率試驗方法》標準設(shè)計開發(fā)，并參考美國ASTM標準。利用新穎的...
2024
8-21

半導體封裝材料高溫絕緣電阻測試系統(tǒng)的產(chǎn)品優(yōu)勢？
半導體封裝材料高溫絕緣電阻測試系統(tǒng)半導體封裝材料高溫絕緣電阻測試系統(tǒng)產(chǎn)品介紹：絕緣材料電阻評價平臺運用三電極法設(shè)計原理測量。利用新穎的電阻測試系統(tǒng)，重復性與穩(wěn)定性好，提升了夾具的抗干擾能力，同時大大提高精確度,可應用于產(chǎn)品檢測以及新材料電學...
2024
8-20

Huace鐵電分析儀可以根據(jù)不同用戶需求進行靈活配置，又可實現(xiàn)哪些功能？
Huace鐵電分析儀可以根據(jù)不同用戶需求進行靈活配置，擴展后又可實現(xiàn)哪些功能呢？HuaceFE-3000鐵電分析儀有著寬頻率響應范圍及寬測試電壓范圍，該系統(tǒng)可廣泛地應用于如各類鐵電/壓電/熱釋電薄膜、厚膜、塊體材料和電子陶瓷、鐵電傳感器/執(zhí)...
2024
8-19

什么是半導體封裝材料TSDC測試系統(tǒng)？
什么是半導體封裝材料TSDC測試系統(tǒng)？熱刺激理論是在介質(zhì)物理的基礎(chǔ)上發(fā)展起來的，研究這一理論的方法即熱刺激法比較簡單實用而且又能較準確地測量出某些物質(zhì)（如電介質(zhì)、絕緣材料、半導體、駐極體等）的微觀參數(shù)，熱刺激法是一面對材料升溫一面進行測量，...

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